電界放射型走査電子顕微鏡
| メーカー | 日本電子㈱ |
|---|---|
| 型式 | JSM-7800F |
詳細
| 用途 | 電界放射型の走査電子顕微鏡（FE-SEM）で、数十倍～数十万倍でのSEM観察と付属のEDXによる元素分析の実施が可能です。 |
|---|---|
| 機能 | ・分解能：0.8nm（15kV）、1.2nm（1kV） ・加速電圧：0.01～30kV ・観察倍率：×25～×1000000 |
EQUIPMENT
JSM-7800F
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