設備紹介
FOR
TESTING
評価用設備
カメラ式3Dスキャナ
- メーカー
- GOM社
- 型式
- ATOS Q 12M
- 詳細
-
・測定精度：±7～±26μm
・ポリゴン解像度：1200万画素
・点間ピッチ：0.03～0.12mm
・レンズ：MV100、MV170、MV270、MV500
・測定範囲：100×70mm～500×370mm
3Dスキャナ型三次元測定機
- メーカー
- ㈱キーエンス
- 型式
- VL-500
- 詳細
-
・測定精度：±10μm
・繰り返し精度：2μm（※トレーサビリティ対応）
・自動XY連結測定範囲：φ500×H200mm
・測定解像度：400万点・1600万点
・その他：色情報の取得
アーム型3Dレーザースキャナ
- メーカー
- ㈱ニコン
- 型式
- MMDx50（レーザースキャナー）
MCA Ⅱ 8ft-7軸（アーム） - 詳細
- ・総合精度（スキャナー＆アーム）：約0.05mm
・レーザースキャンレンジ：50mm
・測定レンジ：2400mm
CNC三次元測定機
- メーカー
- ㈱ミツトヨ
- 型式
- Crysta-Apex S9168
- 詳細
-
・測定範囲：X900mm,Y1600mm,Z800mm
・最大許容指示誤差：1.9+3L/1000μm
・スキャニングプローブ：SP25M
X線CT装置
- メーカー
- ㈱ニコン
- 型式
- XT H 225 ST
- 詳細
- ・最大管電圧：225kV
・最大出力：225W
・X線焦点サイズ：3μm
・検出器：16inchフラットパネルディテクタ
・最大撮影範囲：φ240×H200mm（※分割スキャンにより最大φ240×H760mmまで撮影が可能）
・最大試料寸法：φ560×H845mm
・最大テーブル搭載質量：50kg - ソフトウェア
-
・座標計測
・欠陥/介在物解析
・繊維配向解析
・多孔質構造解析
電界放射型走査電子顕微鏡
- メーカー
- 日本電子㈱
- 型式
- JSM-7800F
- 詳細
- ・分解能：0.8nm(15kV),1.2nm(1kV)
・加速電圧：0.01kV～30kV
・観察倍率：×25～×1,000,000
エネルギー分散型元素分析装置
- メーカー
- 日本電子㈱
- 型式
- JED-2300F
- 詳細
- ・検出器：25mmSDD
・元素対応範囲：B～U
・エネルギー分解能：138eV以下
・定量精度：±数千ppm以上
・ソフトウェア：粒子解析、広領域マッピング
イオンミリング装置
- メーカー
- 日本電子㈱
- 型式
- SM-09010
- 詳細
- ・イオン加速電圧：2kV～6kV
・イオンビーム径：500μm
・ミリングスピード：約100μm/h（※試料の材質によって前後します。）
・最大試料サイズ：W11×D10×H2mm
デジタルマイクロスコープ
- メーカー
- ㈱キーエンス
- 型式
- VHX-6000
- 詳細
- ・撮影倍率：×20～×2000
・撮影素子：1/1.8型 CMOSイメージセンサ
・有効画素数：1600(H)×1200(V)
・解像度：～200万画素
・ソフト：3D形状測定ソフト
高速度カメラ
- メーカー
- ㈱キーエンス
- 型式
- VW-9000
- 詳細
-
・カメラユニット：高速カラーカメラユニット（VW-600C）
・マクロズームユニット：長距離（VW-Z2）、高解像度（VW-Z5）
・フレームレート：30fps～250000fps
・画素数：1024(H)×768(V) XGA
引張圧縮試験機
- メーカー
- ㈱島津製作所
- 型式
- AG-20kNX Plus
- 詳細
- ・最大試験荷重：20kN
・クロスヘッド速度：0.0005～1500mm/min
・その他：ビデオ伸び計
シャルピー衝撃試験機
- メーカー
- ㈱東洋精機製作所
- 型式
- IT
- 詳細
- ・試験法：シャルピー
・対応規格：JIS K 7110
・秤量：2J-4wJ,7.5J-15wJ
・ノッチ加工機：A-4E
リークテスター
- メーカー
- ㈱フクダ
- 型式
- FL-611
- 詳細
- ・圧力レンジ：-90kPa～５MPa
・測定精度：基準ワーク50mLにて1mL/minの漏れ試験で±5％以内
・機能：リニアフィッティング補正
定温恒温器
- メーカー
- アズワン
- 型式
- OF-600S
- 詳細
- ・庫内寸法：W600×D500×H500mm
・温度調整範囲：室温＋20～270℃
・最高温度到達時間：約60分
・温度分布幅：10℃（at270℃）
・対流方式：強制対流方式
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